型號：

ME-L 穆勒矩陣橢偏儀03090801

描述：產(chǎn)品簡介：ME-L是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了科研團隊在橢偏技術多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術，包括消色差補償器、雙旋轉(zhuǎn)補償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等

廠商性質(zhì)
經(jīng)銷商
更新時間
2024-03-07
訪問量
148

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詳細介紹

產(chǎn)品簡介： ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了科研團隊在橢偏技術多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術，包括消色差補償器、雙旋轉(zhuǎn)補償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等。可應用于半導體薄膜結構，半導體周期性納米結構，新材料，新物理現(xiàn)象研究，平板顯示，光伏太陽能，功能性涂料，生物和化學工程，塊狀材料分析以及各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數(shù)以及一維 /二維納米光柵材料結構的表征分析。

雙旋轉(zhuǎn)補償器(DRC)配置一次測量全部穆勒矩陣 16 個元素；配置自動變角器、五維樣件控制平臺等優(yōu)質(zhì)硬件模塊，軟件交互式界面配合輔助向?qū)皆O計，易上手、操作便捷；豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結構模型庫，保證強大數(shù)據(jù)分析能力。

產(chǎn)品型號	ME-L 全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀
主要特點	1、采用氘燈和鹵素燈復合光源，光譜覆蓋紫外到近紅外范圍(193-2500nm) 2、可實現(xiàn)穆勒矩陣數(shù)據(jù)處理，測量信息量更大，測量速度快、數(shù)據(jù)更加精準
	3、基于雙旋轉(zhuǎn)補償器配置，可一次測量獲得全部穆勒矩陣的 16 個元素，相對傳統(tǒng)光譜橢偏儀可獲取更加豐富全面的測量信息
	4、頤光技術確保在寬光譜范圍內(nèi)，提供優(yōu)質(zhì)穩(wěn)定的各波段光譜
	5、數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料 6、集成對納米光柵的分析，可同時測量分析納米結構周期、線寬、線高、側壁角、粗糙度等幾何形貌信息

技術參數(shù)	1、應用：科研級/企業(yè)級
	2、基本功能： Psi/Delta、R/T、穆勒矩陣等光譜 3、分析光譜： 380-1000nm(支持擴展至210-1650nm) 4、單次測量時間： 1-8s
	5、重復性測量精度： 0.005nm
	6、精度(直通測量空氣) 橢偏參數(shù): ψ=45±0.05°△=0±0.1° 穆勒矩陣:對角元素 m=1±0.005；非對角元素 m=0±0.005
	7、光斑大小：大光斑 2-3mm；微光斑 200 μm
可選配置	波段選擇 V:380-1000nm UV:245-1000nm XN:210-1650nm DN+:193-2500nm 角度選擇自動:45-90° 手動:55-75°(5°步進),90° 固定:65° 其他選擇 Mapping 選擇:100×100mm(供參考,按需定制) 溫控臺:室溫一 600C(供參考,按需定制)
可選配件	1	溫控臺
	2	Mapping 擴展模塊
	3	真空泵
	4	透射吸附組件