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產(chǎn)品簡介：TFMS-IV系列緊湊型高精度反射膜厚儀，利用光學干涉原理，通過分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射譜，快速準確測量薄膜厚度、光學常數(shù)等信息

產(chǎn)品簡介：SKCH-1（A）精密測厚儀是一種結(jié)構(gòu)簡單、價格低廉、高精度的測量裝置，主要用于各類材料厚度的精密測量，也可用于其它物品的高度與厚度測量

產(chǎn)品簡介：EQ-TM106膜厚監(jiān)測儀是采用石英晶體振蕩原理，結(jié)合的頻率測量技術(shù)，進行膜厚的在線監(jiān)測

產(chǎn)品簡介：ComBi-D3涂鍍層測厚儀可以測試所有的非磁性涂層如人工合成（絕緣）材料，漆、瓷釉、銅、鉻、鋁等

產(chǎn)品簡介：TF200薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析

產(chǎn)品簡介：TFMS-LD是一款反射光譜薄膜測厚儀，可快速精確地測量透明或半透明薄膜的厚度，其測量膜厚范圍為15nm-50um，儀器所發(fā)出測試光的波長范圍為400nm-1100nm