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產(chǎn)品簡(jiǎn)介：TFMS-IV系列緊湊型高精度反射膜厚儀，利用光學(xué)干涉原理，通過分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射譜，快速準(zhǔn)確測(cè)量薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)等信息

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：SKCH-1（A）精密測(cè)厚儀是一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、價(jià)格低廉、高精度的測(cè)量裝置，主要用于各類材料厚度的精密測(cè)量，也可用于其它物品的高度與厚度測(cè)量

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：EQ-TM106膜厚監(jiān)測(cè)儀是采用石英晶體振蕩原理，結(jié)合的頻率測(cè)量技術(shù)，進(jìn)行膜厚的在線監(jiān)測(cè)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：ComBi-D3涂鍍層測(cè)厚儀可以測(cè)試所有的非磁性涂層如人工合成（絕緣）材料，漆、瓷釉、銅、鉻、鋁等

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：TFMS-LD是一款反射光譜薄膜測(cè)厚儀，可快速精確地測(cè)量透明或半透明薄膜的厚度，其測(cè)量膜厚范圍為15nm-50um，儀器所發(fā)出測(cè)試光的波長(zhǎng)范圍為400nm-1100nm